偏光顯微鏡之透射電鏡的基本原理介紹
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/7/14
在透射電鏡中待觀察樣品被制成薄膜狀，利用入射電子束與它作用后的透射電子作為信號(hào)，依靠電子透鏡將其聚焦成像，并經(jīng)多級(jí)放大，最后在熒光屏或照相底片上給出所要的圖象.
透射電子共有三類。但是必須指出透射電鏡成像所利用的是，三者中與樣品性狀關(guān)系最密切的透射式彈性散射電子。因?yàn)檠芯勘砻髦卦貙?duì)電子的彈性散射幾率大，而且這類電子大多數(shù)分布在大散射角處.此外，樣品厚度越大者，這種散射也越多。如果樣品是晶體，即其原子排列整齊并有一定周期性，那么它與電子起作用的不只是一個(gè)個(gè)孤立的原子，而要考慮晶體的整個(gè)周期勢(shì)場(chǎng)的作用。作用后的彈性散射電子更有一些特征，它們能形成反映祥品結(jié)構(gòu)特點(diǎn)的衍射圖?？傊?，透射電鏡的基本原理無非是如何控制并利用這三類透射電子，尤其是其中的彈性散射電子.
如果在透射電鏡的主機(jī)上再配備其他一些附件，如X射線能譜儀，電子能量損失譜儀等，有針對(duì)性地檢測(cè)電子與樣品作用后產(chǎn)生的其他信號(hào)。那么，在觀察樣品形態(tài)、結(jié)構(gòu)的同時(shí)，還可進(jìn)行其他多種分析.這就是當(dāng)代電鏡的另一個(gè)重要分支方向—分析電鏡(AEM)。
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